Стандартизация и метрология в нанотехнологиях

Стандартизация и метрология в нанотехнологиях

Окрепилов В.В.
你有多喜歡這本書?
文件的質量如何?
下載本書進行質量評估
下載文件的質量如何?
СПб.: Наука, 2008. - 260 с. Монография впервые освещает место и роль стандартизации и метрологии при действиях с объектами, относящимися к нанодиапазону.
В книге содержатся сведения о разрабатываемых международных и национальных стандартах в области наноиндустрии, совершенствовании эталонной базы, создании системы информационного обеспечения проводимых работ.
Книга предназначена для ученых и специалистов, вовлеченных в процесс разработки, производства и применения нанотехнологий, наноматериалов и другой нанопродукции, а также создающих средства измерений и разрабатывающих нормативно-технические документы в области наноиндустрии. Книга может быть полезна при обучении специалистов, связанных с нанотехнологиями, и будет интересна широкому кругу читателей, изучающих развитие науки и техники.От себя: Издание такой книги на русском языке действительно является востребованным на сегодня. Метрология и стандартизация нанотехнологий сейчас находится в зачаточном состоянии, данное издание дает представление о современных проблемах в этой области, кратко вводит читателя в курс существующих методик и технологий измерения параметров нанообъектов. Однако, не следует воспринимать данную книгу как справочник, тем более не стоит бездумно цитировать отрывки из нее в своих работах. Дело в том, что большая часть материала изложенного в книге является переводным. К сожалению, ни автор, ни редакторы не имели в жизни дела с описываемыми методами, поэтому многие термины и утверждения переведены на русский язык довольно безграмотно.
По этой причине я рекомендую в своих работах обязательно обращаться и к другим источникам информации, желательно исконно русскоязычным.
語言:
russian
文件:
PDF, 5.43 MB
IPFS:
CID , CID Blake2b
russian0
下載 (pdf, 5.43 MB)
轉換進行中
轉換為 失敗

最常見的術語